威尔粗糙度仪主要用于检测材料表面微观轮廓特征，核心功能包括接触/非接触式检测、多参数输出及自动化数据处理。

威尔粗糙度仪可测量多个关键参数，包括：

1‌、Ra（算术平均粗糙度）‌：非常常用的参数，表示轮廓偏差的算术平均值，适用于大多数表面评估。

‌2、Rz（大高度粗糙度）‌：测量轮廓高峰与低谷的垂直距离，反映表面极端差异。

‌3、Rq（均方根粗糙度）‌：对轮廓偏差的平方值取平均，更敏感于较大偏差。